研發監控技術 成大教授獲獎

中央社 – 2013年1月14日 下午4:24

（中央社記者張榮祥台南14日電）成功大學教授鄭芳田研發「全自動化型虛擬量測的伺服器與系統及方法」，可監控及預測線上產品品質，避免重大損失。

成功大學製造資訊與系統研究所教授鄭芳田獲得今年國際電機電子工程師學會（IEEE）創新引導生產科技獎，5月將在德國接受頒獎，這也是這個獎項自2007年頒發以來，首位在自動化領域的得獎者。

鄭芳田在自動化工程的傑出研究，以「全自動化型虛擬量測的伺服器與系統及方法（AVM）」最受注目，已取得台灣、美國、日本、韓國及中國大陸的專利，且成功應用在科技大廠生產線上。

「全自動化型虛擬量測的伺服器與系統及方法」可在產品尚未或無法進行實際量測情況下，利用生產機台參數推估產品品質，即時進行線上產品品質預測及機台效能監控，即時發現異常，避免重大損失。

這項技術也能取代部分實際量測、實現逐片檢測模式的先進製程控制及減少監控片的消耗量。

成大表示，這項技術已應用在台積電14廠、群創光電（奇美電）五/六廠及茂迪一廠的生產機台上，大幅提升產品良率及產能。IBM台灣分公司也和成大簽署合作備忘錄，將代理推銷到半導體、面板、太陽能電池等高科技產業。

國際電機電子工程師學會（ Institute ofElectrical and Electronics Engineers，簡稱 IEEE），1963年創會，是全球最大專業技術組織之一，擁有175個國家36萬名會員。

IEEE總部設於美國紐約市，在全球150多個國家設有分會，每年都會發表多種雜誌、學報、書籍，及舉辦至少300次專業會議。1020114